发明名称 Method and apparatus for detecting faulty pixel in thermal camera
摘要 본 발명의 일 실시예에 따르면, 열상 카메라의 불량화소 검출 방법으로서, 주변온도 및 기설정된 시간 주기에 따라, 열상 카메라의 셔터를 닫고 촬영하여 열영상의 제1 프레임을 생성하는 단계; 주변온도 및 기설정된 시간 주기에 따라, 열상 카메라의 셔터를 닫고 촬영하여 열영상의 제2 프레임을 생성하는 단계; 상기 제1 및 제2 프레임의 각각의 데이터로부터 제1 프레임 생성시의 셔터의 제1 온도와 제2 프레임 생성시의 셔터의 제2 온도를 각각 산출하는 단계; 상기 제1 및 제2 프레임을 이용하여 각 화소의 기울기를 산출하는 단계; 및 상기 제1 프레임과 제2 프레임 사이의 화소의 평균 기울기와 상기 각 화소의 기울기를 비교하여 불량화소를 1차 판단하는 단계;를 포함하는 열상 카메라의 불량화소 검출 방법이 제공된다.
申请公布号 KR101656173(B1) 申请公布日期 2016.09.08
申请号 KR20150018054 申请日期 2015.02.05
申请人 주식회사 콕스 发明人 김은석
分类号 G06T7/00;H04N5/217;H04N5/225;H04N5/367 主分类号 G06T7/00
代理机构 代理人
主权项
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