发明名称 Halbleitervorrichtung, integrierte Schaltung und Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung
摘要 Eine Halbleitervorrichtung (1) weist einen Transistor (5) in einem Halbleitersubstrat (100) mit einer ersten Hauptoberfläche (110) auf. Der Transistor (5) weist ein Sourcegebiet (201), ein Draingebiet (205), ein Kanalgebiet (220), eine Driftzone (260) und eine zu mindestens zwei Seiten des Kanalgebiets (220) benachbarte Gateelektrode (210) auf. Die Gateelektrode (210) ist in Gategräben (213), welche sich in einer ersten Richtung parallel zu der ersten Hauptoberfläche (110) erstrecken, angeordnet. Die Gateelektrode (210) ist mit einem Gateanschluss (273) elektrisch gekoppelt. Das Kanalgebiet (220) und die Driftzone (260) sind entlang der ersten Richtung zwischen dem Sourcegebiet (201) und dem Draingebiet (205) angeordnet. Die Halbleitervorrichtung (1) weist ferner eine leitende und von der Gateelektrode (210) isolierte Schicht (270) unterhalb der Gateelektrode (210) auf. Die leitende Schicht (270) ist mit dem Gateanschluss (273) elektrisch verbunden.
申请公布号 DE102016104189(A1) 申请公布日期 2016.09.15
申请号 DE201610104189 申请日期 2016.03.08
申请人 Infineon Technologies AG 发明人 Köpp, Karoline;Meiser, Andreas;Schlösser, Till
分类号 H01L29/78;H01L27/088;H01L29/06 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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