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发明名称 METHOD OF OPTRONIC STUDIES OF CRYSTAL DEFECTS
摘要
申请公布号 SU1469401(A1) 申请公布日期 1989.03.30
申请号 SU19874232460 申请日期 1987.04.21
申请人 INST KRISTALLOGRAFII IM.A.V.SHUBNIKOVA;SP K BYURO I KRISTALLOGRAFII IM.A.V.SHUBNIKOVA 发明人 INDENBOM VLADIMIR L,SU;TOCHILIN SERGEJ B,SU;TSIGLER IGOR N,SU
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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