发明名称 TESTING OF INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS6447975(A) 申请公布日期 1989.02.22
申请号 JP19870204167 申请日期 1987.08.19
申请人 NEC CORP 发明人 KATO HIDEAKI
分类号 H01L21/66;G01R31/28;G01R31/3185 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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