发明名称 VORRICHTUNG ZUM TESTEN EINES HOCHINTEGRIERTEN MIKROPROGRAMMGESTEUERTEN ELEKTRONISCHEN BAUTEILES.
摘要
申请公布号 AT37105(T) 申请公布日期 1988.09.15
申请号 AT19830111099T 申请日期 1983.11.07
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUENCHEN 发明人 STADLMEIER, HANS, DIPL.-ING.;SCHOENBERGER, FRANZ, DIPL.-ING.
分类号 G06F11/22;(IPC1-7):G06F11/22 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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