发明名称 TEST SYSTEM FOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING
摘要
申请公布号 EP0142366(B1) 申请公布日期 1988.09.07
申请号 EP19840307853 申请日期 1984.11.13
申请人 DATAPROBE CORPORATION 发明人 HENLEY, FRANCOIS J.
分类号 G01R31/26;G01R31/308;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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