Device for measuring the characteristics of a very high frequency component.

摘要

L'invention concerne un dispositif qui, fixé sur un appareil de mesure, permet d'avoir accès aux bornes d'un composant hyperfréquence, pour mesure de ses paramètres "S". En vue d'avoir les liaisons les plus courtes entre les lignes d'accès (4 + 7) du dispositif et les bornes d'entrée et sortie du composant (24) à mesurer, l'invention prévoit que les deux blocs d'accès (1, 2), qui portent les lignes d'accès, sont réglables en position, par rapport au composant (24) à mesurer, selon deux degrés de liberté, en écartement et en translation latérale. Le composant à mesurer, quelque soit son type (puce, en boitier, en circuit hybride) est porté par un bloc (17), inséré entre les deux blocs d'accès (1, 2), et de dimensions égales à celles du composant (24). Applications aux mesures des paramètres "S", du bruit, de la puissance, en hyperfréquences.