发明名称 Integrated semiconductor circuit having a multilayer metallization.
摘要 <p>Bei integrierten Halbleiter-Schaltungen mit Mehrlagenverdrahtung, bei der die in dem Halbleiter-Körper realisierten Schaltungselemente (2a,2b,2c) durch Leiterbahnen miteinander verbunden sind, die in mindestens zwei übereinanderliegenden, jeweils durch (eine) isolierende Schicht(en) voneinander getrennte, Ebenen verlaufen können zwischen den Schaltungselementen (2b,2c) und den oberhalb von ihnen verlaufenden Leiterbahnen (4a,4b,4c) unerwünschte Kopplungen auftreten. Diese störenden Kopplungen werden dadurch vermieden, daß Leiterbahnen (3) einer unteren Verdrahtungsebene in Lage und Form so ausgebildet und an ein solches Potential angelegt sind, daß sie eine Abschirmung zwischen unter ihnen liegenden Schaltungselementen (2b,2c) und einer oder mehreren Leiterbahnen (4a,4b,4c) in einer oberen Verdrahtungsebene bilden.</p>
申请公布号 EP0270184(A2) 申请公布日期 1988.06.08
申请号 EP19870202359 申请日期 1987.11.30
申请人 PHILIPS CORPORATE INTELLECTUAL PROPERTY GMBH;KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 KOHSIEK, CORD
分类号 H01L21/768;H01L23/522;(IPC1-7):H01L23/52;H01L23/56 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人
主权项
地址