发明名称 AUTOMATIC TEST EQUIPMENT FOR INTEGRATED CIRCUITS
摘要 L'appareil (10) comprend un contrôleur à semiconducteur qui, en fonctionnement, produit un signal de signature analogique relatif à un noeud de circuit d'un circuit électronique, tel qu'une connexion par fiche d'un circuit intégré. Le signal de signature analogique est le résultat de signaux horizontal et vertical qui sont également dirigés vers un intégrateur/convertisseur A-N (44) qui produit un ensemble de quatre signaux numériques représentant ladite signature analogique. Ces signaux numériques sont ensuite comparés dans un ordinateur (50) à des valeurs numériques de référence pour le même noeud de circuit du même circuit électronique dont le fonctionnement est bon. Si les signaux numériques ne se trouvent pas à l'intérieur d'une plage sélectionnée par rapport aux valeurs numériques de référence, la signature analogique du noeud du circuit est affichée à des fins de contrôle et d'évaluation par un opérateur.
申请公布号 WO8802490(A1) 申请公布日期 1988.04.07
申请号 WO1987US02398 申请日期 1987.09.23
申请人 HUNTRON INSTRUMENTS, INC. 发明人 YEUNG, PAUL, K.;HOWARD, ALAN, D.;HOO, JAMES, W.;PENNOCK, JAMES, L.
分类号 G01R31/319;G06F11/277;(IPC1-7):G01R19/257 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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