发明名称 SEMICONDUCTOR LASER ASTIGMATIC DIFFERENCE MEASURING INSTRUMENT
摘要
申请公布号 JPS6367539(A) 申请公布日期 1988.03.26
申请号 JP19860212939 申请日期 1986.09.10
申请人 TOSHIBA CORP;TOSHIBA ELECTRON DEVICE ENG CORP 发明人 SUZUKI KAZUO;WATANABE FUMIYA
分类号 G01M11/00;H01S5/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项
地址