发明名称 |
光纤轴向磨抛厚度精确控制方法及装置 |
摘要 |
一种用来实现高精度、长度可控、多光纤同时处理的光纤轴向磨抛厚度精确控制方法及装置。通过调节施加在压电陶瓷PZT上的电压,改变待研磨光纤与基准块的相对位置,实现光纤研磨精度高达0.01μm的自由调整。光纤的研磨长度由精密导向机构和定位传感器精确控制,实现对长度大于100mm的光纤进行轴向研磨。采用电弧放电抛光的方法,利用电弧放电所产生的高温将研磨光纤的表面进行熔化,从而有效消除研磨光纤表面的粗糙度,抑制微裂纹或凹坑造成的较大损耗。通过在放置光纤的微晶玻璃上刻制多个V型槽的方法,可实现多纤同时加工,提高工作效率,本发明在国际上属于首创。 |
申请公布号 |
CN100455410C |
申请公布日期 |
2009.01.28 |
申请号 |
CN200610169810.5 |
申请日期 |
2006.12.29 |
申请人 |
北京交通大学 |
发明人 |
裴丽;董小伟;宁提纲;任文华;汪滢滢 |
分类号 |
B24B49/10(2006.01);B24B19/22(2006.01);B24B1/00(2006.01);B24B5/50(2006.01);B24B7/24(2006.01) |
主分类号 |
B24B49/10(2006.01) |
代理机构 |
北京市商泰律师事务所 |
代理人 |
毛燕生 |
主权项 |
1.一种光纤轴向磨抛厚度精确控制方法,其特征是:通过调节施加在压电陶瓷PZT上的电压,改变待研磨光纤与基准块的相对位置,光纤研磨精度为0.01μm;光纤的研磨长度由电机控制的定位传感器精确控制,轴向研磨长度大于100mm的光纤。 |
地址 |
100044北京市西直门外上园村3号 |