TESTING METHOD FOR SUBSCRIBER CIRCUIT,申请号JP19860179954-传众专利搜索

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发明名称	TESTING METHOD FOR SUBSCRIBER CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPS6337751(A)	申请公布日期	1988.02.18
申请号	JP19860179954	申请日期	1986.08.01
申请人	HITACHI LTD	发明人	IRIBE SHINICHI
分类号	H04M3/26	主分类号	H04M3/26
代理机构		代理人
主权项
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