| 发明名称 |
RELIABLE CIRCUIT FOR TESTING MEMORY MATRIX |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
YU41727(B) |
申请公布日期 |
1987.12.31 |
| 申请号 |
YU19800002004 |
申请日期 |
1980.08.08 |
| 申请人 |
INTERNATIONAL STANDARD ELECTRIC CORPORATION |
发明人 |
KNAPP H.J. |
| 分类号 |
B61L21/00;G06F13/22;G11C7/02;G11C29/00;(IPC1-7):G11C7/00;B61L27/00;G06F13/00 |
主分类号 |
B61L21/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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