发明名称 |
METHOD OF MEASURING CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR DEVICES IN PARTICULAR TRANSISTORS |
摘要 |
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申请公布号 |
PL256140(A1) |
申请公布日期 |
1987.06.15 |
申请号 |
PL19850256140 |
申请日期 |
1985.11.07 |
申请人 |
POLITECHNIKA GDANSKA |
发明人 |
KUCHTA JERZY;RZEPA HENRYK |
分类号 |
G01R;G01R13/00;G01R31/26;(IPC1-7):G01R/ |
主分类号 |
G01R |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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