APPARATUS FOR TESTING LOGICAL CIRCUIT,申请号JP19850238778-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	APPARATUS FOR TESTING LOGICAL CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPS6296872(A)	申请公布日期	1987.05.06
申请号	JP19850238778	申请日期	1985.10.24
申请人	NEC CORP	发明人	SATO SHINICHI
分类号	G06F11/22;G01R31/28	主分类号	G06F11/22
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

Geschirrspuelmaschine mit Wasserenthaertung

Beinlagerungsvorrichtung

Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen expandierter Nahrungsmittel

Verfahren zur Sickerlaugung von fein- bzw. feinstkroenigem Gut auf Edel- und NE-Metalle

Mechanismus zum Aufbringen einer Kraft

Duennfilmspeicher und Verfahren zu seiner Herstellung

Verfahren zur Erzeugung einer bevorzugten Kornorientierung in einem Material aus Zirkonium oder aus Legierungen auf der Basis von Zirkonium

Vorrichtung zum elektrohydraulischen Formen rohrartiger Werkstuecke

Werkzeugtraeger fuer Bohr- oder dergleichen Werkzeuge

Maschine und Verfahren zur Herstellung von Rohrverbindungen u.dgl.

Verfahren zur gleichzeitigen Bestimmung von Glucose und Fructose

Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauelementen

Verfahren zur Herstellung eines Halbleiter-Bauelementes

Verfahren zur Herstellung von Kerngarn unter Verwendung eines elastischen Kernfadens

Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Wertes der Leckverluste aus radioaktiv verseuchte Gegenstaende enthaltenden umschlossenen Raeumen

Programmschaltwerk mit Schnellgang ohne Sperrkontakt

Verfahren zum Herstellen von Hydroxyalkylphosphiten