| 发明名称 |
APPARATUS FOR MEASURING THE THICKNESS OF THIN LAYERS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
HK25787(A) |
申请公布日期 |
1987.04.03 |
| 申请号 |
HK19870000257 |
申请日期 |
1987.03.26 |
| 申请人 |
HELMUT FISCHER GMBH & CO. |
发明人 |
HELMUT FISCHER |
| 分类号 |
G01B15/02;G01N23/06;G01N23/223;(IPC1-7):G01B15/02 |
主分类号 |
G01B15/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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