发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION DE LA TEXTURE CRISTALLOGRAPHIQUE D'UN MATERIAU POLYCRISTALLIN
摘要 <P>SELON L'INVENTION, ON DISPOSE UN COMPTEUR COURBE 30 DANS UN PLAN PERPENDICULAIRE AU FAISCEAU DE RAYONSX INCIDENT 211, ON ORIENTE LE PLAN DE L'ECHANTILLON 1 DE MANIERE QU'IL DEFINISSE UN ANGLE PREDETERMINEB PAR RAPPORT AU FAISCEAU INCIDENT 211, ON DEPLACE LE COMPTEUR 30 PARALLELEMENT AU FAISCEAU INCIDENT 211 JUSQU'A CE QUE LE COMPTEUR 30 COINCIDE AVEC UNE SECTION DU CONE DE DEBYE 201 DEFINI PAR LES FAISCEAUX DIFFRACTES 214, ON FAIT TOURNER L'ECHANTILLON 1 AUTOUR DE L'AXE OZ PERPENDICULAIRE A CELUI-CI, ON MESURE POUR CHAQUE POSITION SUR LE COMPTEUR 30 EN FONCTION DE LA POSITION ANGULAIRE EN AZIMUT DE L'ECHANTILLON 1 LA DENSITE DE RAYONNEMENT DIFFRACTE ET ON ETABLIT LA POSITION ET LA DENSITE DES NORMALES A UNE FAMILLE DE PLANS RETICULAIRES HKL DE L'ECHANTILLON SOUS LA FORME D'UNE FIGURE DE POLES A PARTIR DES MESURES EFFECTUEES AVEC LE COMPTEUR 30.</P><P>APPLICATION A LA DETERMINATION DE LA TEXTURE CRISTALLOGRAPHIQUE DE MATERIAUX POLYCRISTALLINS.</P>
申请公布号 FR2587805(A1) 申请公布日期 1987.03.27
申请号 FR19850014309 申请日期 1985.09.24
申请人 METZ UNIVERSITE 发明人 JEAN-JULIEN HEIZMANN ET CHRISTIAN LARUELLE;LARUELLE CHRISTIAN
分类号 G01N23/207;(IPC1-7):G01N23/20 主分类号 G01N23/207
代理机构 代理人
主权项
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