Method of monitoring semiconductor memories with devices for the protection of stored data, and devices for controlling memories for semiconductor memories operating according to this method.

摘要

Erleichterung der Feststellung der Fehlerursachen von Speicherfehlern durch Abwandlung aller Schreibbefehle in kombinierte Schreib-/Lesebefehle abhängig von einem wahlweise wirksam schaltbaren Steuersignal (PL-MOD) und Erfassung der während eines solchen kombinierten Schreib-/Lesevorganges anfallenden Informationen und Signalzustände durch eine Prüf- und Meßeinrichtung (FREG-E) mit bleibender Aufzeichnung beim Vorliegen nicht korrigierbarer Lesedaten, wobei die während des Lesevorganges normalersweise ausgelösten Schnittstellensignale (DARDY) bzw. (RHARDER) unterdrückt werden und gegebenenfalls das eine nicht ausführbare. Schreibanforgerung kennzeichnende Signal (WHARDER) gesendet wird.