| 发明名称 |
MEASURING CIRCUIT OF THE EXAMINING APPARATUS FOR PARTS OF CIRCUIT BOARD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR870000637(Y1) |
申请公布日期 |
1987.02.21 |
| 申请号 |
KR19840011201U |
申请日期 |
1984.11.05 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD. |
发明人 |
LEE IN-OK |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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