发明名称 SPECTROMETRE A MODULATION D'AMPLITUDE SELECTIVE INTERFERENTIELLE
摘要 <P>L'INVENTION CONCERNE LES INSTRUMENTS OPTIQUES.</P><P>LE SPECTROMETRE FAISANT L'OBJET DE L'INVENTION EST DU TYPE COMPORTANT NOTAMMENT DEUX MIROIRS DE BALAYAGE 14 ET 15 DISPOSES SUR UN SUPPORT COMMUN 13 MOBILE EN ROTATION AUTOUR D'UN AXE 20 SITUE SUR LA LIGNE DE CROISEMENT DU PLAN 17 DANS LEQUEL SE TROUVE LA SURFACE UTILE DU RESEAU DE DIFFRACTION 7 ET DU PLAN 25 CONTENANT LA SURFACE REFLECHISSANTE 11 DU MIROIR AUXILIAIRE 10, ET AGENCES, L'UN, POUR REFLECHIR LES RAYONS VENANT DU RESEAU DE DIFFRACTION 7, ET L'AUTRE, LES RAYONS VENANT DU MIROIR AUXILIAIRE 10, ET EST CARACTERISE EN CE QUE ENTRE, D'UNE PART, LE MIROIR DE BALAYAGE 15 DESTINE A REFLECHIR LES RAYONS VENANT DU MIROIR AUXILIAIRE 10, ET D'AUTRE PART, LE SUPPORT 13, EST DISPOSEE UNE LAME PLANE PARALLELE 16 D'EPAISSEUR H CONFORME A LA RELATION: H L, OU EST L'INTERVALLE ENTRE, D'UNE PART, LE PLAN 17, CONTENANT LA SURFACE UTILE DU RESEAU DE DIFFRACTION 7, ET D'AUTRE PART, LA FACE EN BOUT 18, EN REGARD DE CE PLAN, DU MIROIR AUXILIAIRE 10; L EST LA DIMENSION LINEAIRE DU RESEAU DE DIFFRACTION 7 DANS UNE DIRECTION PERPENDICULAIRE A LA DIRECTION DE SES TRAITS 8.</P><P>LE SPECTROMETRE EN QUESTION PEUT ETRE UTILISE NOTAMMENT POUR L'ANALYSE DES RAYONNEMENTS ELECTROMAGNETIQUES.</P>
申请公布号 FR2583516(A1) 申请公布日期 1986.12.19
申请号 FR19850008914 申请日期 1985.06.12
申请人 TSENTR PO IZUCHENIJU SVOISTV POV 发明人 B. I. IVANOV, N. A. KIRICHENKO, N. P. KOZLOV, A. I. LOPATIN. V. I. RAKHOVSKY, A. M. SHUKHTIN, DECEDE AYANT POUR HERITIERE T. G. MEISTER ET A. B. IOANNISIANI;KIRICHENKO N A;KOZLOV N P;RAKHOVSKY A I LOPATIN V I;SHUKHTIN A M;MEISTER AYANT POUR HERI;IOANNISIANI A B
分类号 G01J3/02;G01J3/26;G01J3/45;(IPC1-7):G01J3/453 主分类号 G01J3/02
代理机构 代理人
主权项
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