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发明名称 LOGIC CIRCUIT TEST PROBE
摘要
申请公布号 EP0182388(A3) 申请公布日期 1986.10.08
申请号 EP19850114975 申请日期 1982.04.28
申请人 JOHN FLUKE MFG. CO., INC. 发明人 BHASKAR, KASI SESHADRI C/O JOHN FLUKE MFG CO. LTD.;CARLSON, ALDEN J.;COUPER, ALASTAIR NORMAN;LAMBERT, DENNIS L.;SCOTT, MARSHALL H.
分类号 G06F11/22;G01R19/165;G01R31/28;G01R31/319;G06F11/25;G06F11/26;G06F11/267;G06F11/273;G06F11/32;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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