发明名称 Measuring device.
摘要 Das vorliegende Meßsystem weist zwei Referenzmarken (R1, R2) zur Festlegung einer Bezugsposition auf, die in einem bestimmten Abstand (D) hintereinander auf einer Maßverkörperung (M) angeordnet sind. Die beiden Referenzmarken (R1, R2) werden von Abtastelementen (AR1, AR2) abgetastet, die auf einer Abtastplatte (AP) einer Abtasteinrichtung (A) in einem Abstand (AD) angeordnet sind, der vom gegenseitigen Abstand (D) der Referenzmarken (R1, R2) geringfügig abweicht. Dadurch erhält man zwei zeitlich geringfügig versetzte versetzte Referenzsignale (S1, S2), die sich überlappen. Nach Triggerung dieser Referenzsignale (S1, S2) entstehen zwei sich überlappende Referenzimpule (Ri1, Ri2). Mittels einer UND-Verknüpfung erhält man aus den beiden Referenzimpulsen (Ri1, Ri2) einen resultierenden Referenzimpuls (Ri), dessen Impulsdauer der Überlappungsbreite der vorgenannten Signale (S1, S2) entspricht.
申请公布号 EP0194611(A2) 申请公布日期 1986.09.17
申请号 EP19860103071 申请日期 1986.03.07
申请人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH 发明人 NELLE, GUNTHER, DR.-ING.
分类号 G01D5/36;(IPC1-7):G01D5/36 主分类号 G01D5/36
代理机构 代理人
主权项
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