发明名称 INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND REMOTE PIN ELECTRONICS THEREFOR
摘要 <p>Des circuits électroniques et de mesure se situent à distance de la tête de contrôle. Un circuit de comptage (20) de dispositif bas effectue la commutation rapide nécessaire au niveau de chaque broche (21). Les lignes de force et de mesure sont relativement longues, mais les débits de signaux sont assez bas pour être transmis avec précision. Les seuls signaux à débit élevé sont ceux transmis par des lignes couplées aux circuits de porte de commutateurs de TEC (25, 26, 30, 31, 35, 36) au niveau de la tête de contrôle. Il devient ainsi possible de procéder à des contrôles de broches multiples et à haute vitesse en utilisant des têtes de contrôle relativement petites et économiques.</p>
申请公布号 WO1986002167(A1) 申请公布日期 1986.04.10
申请号 US1985001712 申请日期 1985.09.09
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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