| 发明名称 |
METHOD OF AND APPARATUS FOR MEASURING CURVATURE OF SHADOW MASK |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5369665(A) |
申请公布日期 |
1978.06.21 |
| 申请号 |
JP19760144762 |
申请日期 |
1976.12.03 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
ITOU SHIYUUJI;YAMADA SHIYOUJI;SHIRAI KATSUYUKI |
| 分类号 |
G01B5/20;G01B5/207;G01B5/213;G01B5/28;G01B21/20 |
主分类号 |
G01B5/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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