发明名称 APPARATUS FOR CONTINUOUSLY MEASURING THE THICKNESS.
摘要 Dans une installation de mesure continue de l'épaisseur d'un dépôt de matériau produit à l'aide d'une installation d'enduction sur un matériau de support, l'épaisseur de sédimentation est déterminée électriquement sur l'électrode de mesure (9) d'une sonde de référence (50) par détection du signal de courant alternatif sur l'électrode de mesure (9). L'électrode de mesure (9) se trouve entre deux électrodes génératrices de champ (17, 23) placées dans un boîtier métallique (1) doté d'ouvertures d'entrée (4, 5), électrodes qui subissent l'action de tensions alternatives déphasées de 180o entre elles et dont les amplitudes sont fixées au début de la mesure de telle manière qu'aucun signal ne survienne à l'électrode de mesure (9). Le dépôt de matériau produit pendant l'enduction d'un matériau de support sur l'électrode de mesure (9) se trouvant à proximité provoque un désaccord de l'écoulement du champ dans la sonde de référence (50) et, de la sorte, un courant de mesure dans l'électrode de mesure (9) raccordée à un circuit d'évaluation.
申请公布号 EP0167606(A1) 申请公布日期 1986.01.15
申请号 EP19850900632 申请日期 1985.01.11
申请人 FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. 发明人 NESKE, EUGEN;BERGMANN, ECKHARD;BACHEM, KARL-HEINZ;KULMUS, KARL
分类号 G01B7/06;C23C14/34;C23C14/54;(IPC1-7):G01B7/06 主分类号 G01B7/06
代理机构 代理人
主权项
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