| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung eines Abbilds eines Gegenstands (O) mit einer Mehrzahl von Sensoren (10, 20, 30) umfassend jeweils eine Anzahl von Pixelsensoren (11, 21, 31),
- wobei die Pixelsensoren (11, 21, 31) desselben Sensors (10, 20, 30) jeweils dasselbe Empfindlichkeitsspektrum (S 1 , S 2 , S 3 ) aufweisen und die Pixelsensoren (11, 21, 31) unterschiedlicher Sensoren (10, 20, 30) jeweils unterschiedliche Empfindlichkeitsspektren (S 1 , S 2 , S 3 ) aufweisen, und
- wobei mit jedem der Sensoren (10, 20, 30) jeweils ein Bild (I 1 , I 2 , I 3 ) desselben Teilbereichs des Gegenstands (O) erstellt wird, wobei das Abbild des Gegenstands (O) mit den Bildern (I 1 , I 2 , I 3 ) erstellt wird.
Erfindungsgemäß ist vorgesehen,
- dass in den von den einzelnen Sensoren (10, 20, 30) erstellten Bildern (I 1 , I 2 , I 3 ) mit jeweils unterschiedlichem Empfindlichkeitsspektrum (S 1 , S 2 , S 3 ) nach Abbildern desselben Teilbereichs des Gegenstands (O) gesucht wird, indem einzelne Teilbilder (I 1,1 ... I 1,n , I 2,1 ... I 2,n , I 3,1 ... I 3,n ) der Bilder (I 1 , I 2 , I 3 ) miteinander korreliert werden, und
- dass miteinander korrelierende Teilbilder (I 1,1 ... I 1,n , I 2,1 ... I 2,n , I 3,1 ... I 3,n ) aus den Bilder (I 1 , I 2 , I 3 ) ermittelt und einander zugeordnet werden und gegebenenfalls einzelne Bereiche oder Pixel einander zugeordneter Teilbilder (I 1,1 ... I 1,n , I 2 , 1 ... I 2,n , I 3,1 ... I 3,n ) einander aufgrund der Korrelation zugeordnet werden. |
