发明名称 PROCEDE ET CIRCUIT ELECTRONIQUE POUR LA MESURE DES SIGNAUX TRES FAIBLES A POTENTIEL ELEVE
摘要 <P>IL COMPREND UNE PREMIERE PARTIE 1 CONSTITUEE PAR AU MOINS UN AMPLIFICATEUR 2 DIRECTEMENT RELIE EN COURANT CONTINU A LA SOURCE DES SIGNAUX FAIBLES, SUIVI D'AU MOINS UN AMPLIFICATEUR DE COURANT 5, APRES QUOI UNE DEUXIEME PARTIE 11 RAMENE LE SIGNAL AMPLIFIE A POTENTIEL ELEVE AU NIVEAU DU POTENTIEL DE LA MASSE DES APPAREILS DE MESURE AU MOYEN D'UNE SERIE DE TRANSISTORS 12 A 14 SUIVIE D'UN AMPLIFICATEUR DE SORTIE 22, UNE TROISIEME PARTIE ETANT PREVUE EVENTUELLEMENT POUR REALISER A L'AIDE D'UNE PORTE ANALOGIQUE 25 COMMANDEE ET D'UN AMPLIFICATEUR 28 UN ECHANTILLONNAGE SUIVIE D'UNE RECONSTITUTION DU SIGNAL, CE QUI PERMET NOTAMMENT EN SPECTROMETRIE DES MESURES RAPIDES ET PRECISES DE SIGNAUX TRES FAIBLES A FORT POTENTIEL.</P>
申请公布号 FR2562256(A1) 申请公布日期 1985.10.04
申请号 FR19840005021 申请日期 1984.03.30
申请人 ARMINES 发明人 PAUL NGUYEN TAN TAI ET JEAN-PAUL HENON;HENON JEAN-PAUL
分类号 G01R15/00;G01R15/06;G01R15/08;G01R19/00;(IPC1-7):G01R15/08 主分类号 G01R15/00
代理机构 代理人
主权项
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