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发明名称 TECNICA PER RIDURRE I DIFETTI CRISTALLOGRAFICI IN UN DISPOSITIVO SEMICONDUTTORE.
摘要
申请公布号 IT8520324(D0) 申请公布日期 1985.04.12
申请号 IT19850020324 申请日期 1985.04.12
申请人 RCA CORP. 发明人 LUBOMIR LEON JASTRZEBSKI
分类号 H01L21/02;H01L29/04;(IPC1-7):H01L/ 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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