发明名称 APPARATUS FOR FUNCTIONAL AND STATIC- PARAMETRIC TESTING OF MICROPROCESSOR INTEGRAL CIRCUITS
摘要
申请公布号 BG36889(A1) 申请公布日期 1985.02.15
申请号 BG19830063106 申请日期 1983.11.18
申请人 PETKOV,RANGEL N.;TRENKOV,JJORDAN KH.;SHUSHKOV,NIKOLAJJ S.;MIRCHEV,IVAN T.;ZLATARSKI,IVAN V.;KISOVA,TODORKA K.;GEORGIEVA,ADRIANA R.;KHRISTOVA,IRENA G.;TOSHEV,KOCE P.;NIKOLOVA,NIKOLINA D. 发明人 PETKOV,RANGEL N.;TRENKOV,JJORDAN KH.;SHUSHKOV,NIKOLAJJ S.;MIRCHEV,IVAN T.;ZLATARSKI,IVAN V.;KISOVA,TODORKA K.;GEORGIEVA,ADRIANA R.;KHRISTOVA,IRENA G.;TOSHEV,KOCE P.;NIKOLOVA,NIKOLINA D.
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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