| 摘要 |
<p>APARATO PARA PROBAR LA CAPACIDAD DE FUNCIONAMIENTO DE UN DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR.CONSTA DE MEDIOS PARA INTRODUCIR, EN UNA SEÑAL DE CONTROL NORMAL PARA EL DISPOSITIVO, IMPULSOS DE PRUEBAS QUE PUEDEN INDUCIR UN CAMBIO MOMENTANEO EN EL ESTADO DEL DISPOSITIVO; DE MEDIOS SENSORES CONECTADOS EN PARALELO CON EL DISPOSITIVO, QUE RESPONDEN AL CAMBIO DE ESTADO DE DICHO DISPOSITIVO, PARA PRODUCIR UNA SEÑAL DE SALIDA; Y DE MEDIOS DE CORRELACION QUE FUNCIONAN PARA CORRELACIONAR LA SALIDA DE LOS MEDIOS SENSORES CON LOS IMPULSOS DE PRUEBA, PARA DETERMINAR LA CAPACIDAD DE FUNCIONAMIENTODE DICHO DISPOSITIVO.</p> |
