发明名称 A DIAGNOSTIC CIRCUIT FOR DIGITAL SYSTEMS
摘要 Circuit amélioré de diagnostic par balayage en série. Un registre d'état (50) dans le chemin de signal du système numérique à l'essai est couplé à un registre à décalage de diagnostic (60). Les données du test sont introduites et extraites au travers du registre à décalage de diagnostic (60) par l'intermédiaire d'un terminal d'entrée en série (83) et d'un terminal de sortie en série (84). Pour certaines opérations, le terminal d'entrée en série devient un terminal de commande, ce qui permet de réduire au minimum le nombre de lignes de commande nécessaires.
申请公布号 WO8401225(A1) 申请公布日期 1984.03.29
申请号 WO1983US01449 申请日期 1983.09.19
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES, INC. 发明人 MILLER, WARREN, K.;MILLER, MICHAEL, J.;BIRKNER, JOHN, M.
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;(IPC1-7):01R31/28;04L1/00;04B17/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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