| 主权项 |
1.一种分散式作业系统,用于测试至少一待测物(DUT )之半导体测试系统,该作业系统包含: 一主作业系统,其能够藉着一系统控制器控制至少 一位址控制器;及 至少一局部作业系统,其与每一位址控制器结合, 用以能够藉着一相结合之位址控制器控制至少一 测试模组, 其中至少一测试模组在一对应待测物上施行测试 。 2.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中该 主作业系统同步操作该至少一位址控制器。 3.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中该 主作业系统调解该系统控制器及该至少一位址控 制器间之通讯。 4.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中该 系统控制器监视该至少一位址控制器之操作。 5.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中一 位址控制器监视该至少一与该位址控制器相连之 测试模组之操作。 6.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中该 主作业系统包含至少一主机介面,该主机介面用以 与该至少一位址控制器通讯。 7.如申请专利范围第6项之分散式作业系统,该至少 一主机介面用以与至少一与位址控制器相连之测 试模组通讯。 8.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,尚包含 一用于界定测试模组函数程式之测试模组介面,而 用以形成一位址控制器至第一测试模组之介面,其 中该测试模组介面系可延伸至形成该位址控制器 至第二测试模组之介面,该未延伸之测试模组介面 不足以形成该位址控制器至该第二测试模组之介 面。 9.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中该 主作业系统包含至少一主框架类别。 10.如申请专利范围第9项之分散式作业系统,其中 该至少一主框架类别系在一标准电脑语言中开发, 以能够让一使用者开发用于控制该至少一位址控 制器之应用程式特定类别。 11.如申请专利范围第10项之分散式作业系统,其中 该标准电脑语言系C或C++。 12.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 每一局部作业系统包含至少一局部框架类别。 13.如申请专利范围第12项之分散式作业系统,其中 该至少一局部框架类别系在一标准电脑语言中开 发,以能够让一使用者开发用于控制该至少一测试 模组之应用程式特定类别。 14.如申请专利范围第13项之分散式作业系统,其中 该标准电脑语言系C或C++。 15.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 由每一位址控制器所控制之模组数目系可变动的 。 16.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 与一对应位址控制器结合之局部作业系统能够重 新架构藉着该位址控制器所控制之测试模组型式 。 17.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 该主作业系统能够变动由该系统控制器所控制之 位址控制器之数目。 18.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 该主作业系统能够变动由该测试系统所测试之待 测物之数目。 19.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 该至少一测试模组包含硬体及/或软体。 20.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,尚包 含一模拟器,其用于以该测试系统模拟一候选测试 模组之用法,以确认该候选模组与该测试系统相容 。 21.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 在第一测试位址之模组之第一集合系架构成异于 在第二测试位址之模组之第二集合。 22.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,第一 测试位址具有第一架构,以测试第一待测物,且第 二测试位址具有第二架构,以测试第二待测物,其 中该第一及第二测试位址系可重新架构,以与第三 测试位址形成在一起,而取代测试第三待测物。 23.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,其中 在第一测试位址之第一模组能存取在第二测试位 址之第二模组。 24.如申请专利范围第1项之分散式作业系统,尚包 含一通讯函式库,其具有与测试模组一起使用之函 数程式及介面之一预定集合。 图式简单说明: 图1说明一习知测试器体系结构。 图2说明根据本发明一具体实施例之系统体系结构 。 图3说明根据本发明一具体实施例之软体体系结构 。 图4说明根据本发明一具体实施例之测试类别之使 用。 图5系统一模型语言(UML)之示意图,其根据本发明之 具体实施例说明一测试器系统及不同卖方供给模 组资源之相互作用。 图6说明一位址控制器物件之具体实施例,其用于 管理藉着一位址控制器所维持之使用者之测试。 图7说明一在该系统控制器侧面之物件替代品之具 体实施例,其代表图6所示之位址控制器物件。 图8说明一根据本发明具体实施例之测试环境。 |
