| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR THE AUTOMATIC TESTING OF SEMI-CONDUCTOR COMPONENTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0030723(B1) |
申请公布日期 |
1983.10.05 |
| 申请号 |
EP19800107860 |
申请日期 |
1980.12.12 |
| 申请人 |
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
SCHNURMANN, HENRI DANIEL |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/319;(IPC1-7):01R31/28;06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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