| 发明名称 |
DISPOSITIF POUR APPLIQUER DES SIGNAUX LOGIQUES DE TEST A DEUX ETATS SUR UNE ENTREE D'UN CIRCUIT LOGIQUE ET APPLICATION AUX TESTS AUTOMATIQUES D'UNE PLURALITE DE CIRCUITS LOGIQUES |
| 摘要 |
<P>L'INVENTION CONCERNE UN DISPOSITIF POUR APPLIQUER DES SIGNAUX DE TEST A DEUX ETATS SUR UNE ENTREE D'UN CIRCUIT LOGIQUE ET UNE APPLICATION DE CE DISPOSITIF AUX TESTS AUTOMATIQUES D'UNE PLURALITE DE CIRCUIT LOGIQUE.</P><P>LE CIRCUIT LOGIQUE 3 FOURNIT SUR UNE SORTIE 4, DES SIGNAUX PRESENTANT DEUX ETATS LOGIQUES DEPENDANT RESPECTIVEMENT DE DEUX ETATS LOGIQUES 0 OU 1 DE SIGNAUX DE COMMANDE APPLIQUES SUR UNE ENTREE 2 DE CE CIRCUIT, PAR UNE SORTIE 6 D'UN MOYEN DE COMMANDE 5. LE DISPOSITIF EST CARACTERISE EN CE QU'IL EST CONSTITUE PAR DES MOYENS 1 POUR IMPOSER CHAQUE ETAT LOGIQUE DES SIGNAUX DE TEST A L'ENTREE 2 DU CIRCUIT LOGIQUE, QUEL QUE SOIT L'ETAT LOGIQUE DES SIGNAUX DE COMMANDE.</P><P>APPLICATION AUX TESTS DE CIRCUITS LOGIQUES</P>
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| 申请公布号 |
FR2522824(A1) |
申请公布日期 |
1983.09.09 |
| 申请号 |
FR19820003711 |
申请日期 |
1982.03.05 |
| 申请人 |
COMMISSARIAT A ENERGIE ATOMIQUE |
发明人 |
MICHEL COLLOMBET |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/317;G01R31/319;G21C17/00;(IPC1-7):G01R31/28;G06F11/30 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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