| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SPACE OF SURFACE OF ELECTRON DIFFRACTION IMAGE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS58150843(A) |
申请公布日期 |
1983.09.07 |
| 申请号 |
JP19820216242 |
申请日期 |
1982.12.09 |
| 申请人 |
UJIINASU SHIDERUURUJIKASU DE MINASU JIERAISU SA |
发明人 |
ANDORE ROUISU TENUTA DE AZEBEDO |
| 分类号 |
G01N23/207;G01B7/02;G01B15/00;H01J37/26;H01J37/295 |
主分类号 |
G01N23/207 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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