| 发明名称 |
(B1) ;APPARATUS FOR MEASURING THICKNESS DEVIATIONS ON FLAT WORKPIECES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL230868(A1) |
申请公布日期 |
1982.11.08 |
| 申请号 |
PL19810230868 |
申请日期 |
1981.04.27 |
| 申请人 |
POLITECHNIKA WARSZAWSKA |
发明人 |
STACHURA WLODZIMIERZ;HARASIMOWICZ JAROSLAW;JABLONSKI ZYGMUNT |
| 分类号 |
G01B;G01B5/06;(IPC1-7):G01B/ |
主分类号 |
G01B |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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