发明名称 PROGRAMMABLE READ ONLY MEMORY CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THE SAME
摘要
申请公布号 JPS57117200(A) 申请公布日期 1982.07.21
申请号 JP19810189032 申请日期 1981.11.25
申请人 RAYTHEON CO 发明人 FUABIO PURINSHIPI
分类号 G11C17/00;G11C29/00;G11C29/24 主分类号 G11C17/00
代理机构 代理人
主权项
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