发明名称 PROCEDE DE FABRICATION D'UN CIRCUIT INTEGRE
摘要 <P>L'INVENTION CONCERNE LA TECHNOLOGIE DES SEMI-CONDUCTEURS.</P><P>DANS LA FABRICATION DES CIRCUITS INTEGRES A HAUT NIVEAU D'INTEGRATION, L'EROSION D'UNE COUCHE DE MATIERE DE RESERVE 16, 18 AU COURS DE L'ATTAQUE PAR VOIE SECHE D'UNE COUCHE SOUS-JACENTE 14 PEUT LIMITER NOTABLEMENT LA RESOLUTION DES MOTIFS QU'IL EST POSSIBLE DE FORMER. CONFORMEMENT A L'INVENTION, UNE COUCHE PROTECTRICE DE POLYMERE 60, 62 SE FORME ET SE MAINTIENT UNIQUEMENT SUR LA MATIERE DE RESERVE 16, 18 PENDANT L'ATTAQUE DE LA COUCHE SOUS-JACENTE 14. ON OBTIENT AINSI DES SELECTIVITES D'ATTAQUE ELEVEES.</P><P>APPLICATION A LA FABRICATION DE CIRCUITS INTEGRES A TRES HAUT NIVEAU D'INTEGRATION.</P>
申请公布号 FR2492591(A1) 申请公布日期 1982.04.23
申请号 FR19810019237 申请日期 1981.10.13
申请人 WESTERN ELECTRIC CY INC 发明人 NADIA LIFSHITZ, JOSEPH MICHAEL MORAN ET DAVID NIN-KOU WANG;MORAN JOSEPH MICHAEL;WANG DAVID NIN-KOU
分类号 H01L21/302;H01L21/3065;H01L21/311;H01L21/312;(IPC1-7):H01L21/84 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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