发明名称 Ion implantations method.
摘要 <p>Ionenimplantationsverfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen, bei welchem mehrfach unter ausschließlicher Verwendung einer von unterschiedlich strukturierten Photolackmasken (1,1') zur Begrenzung der Subtratoberfläche Ionen unterschiedlicher Dotierung durch die Öffnungen der Photolackmaske in die Subtratoberfläche implantiert werden, danach jeweils die verwendete Photolackmaske durch einen Plasmaätzprozeß entfernt wird und schließlich sämtliche Dotierungen in das Substrat (2) zur Bildung von Zonen (11, 12) eindiffundiert werden.</p>
申请公布号 EP0028786(A1) 申请公布日期 1981.05.20
申请号 EP19800106741 申请日期 1980.11.03
申请人 DEUTSCHE ITT INDUSTRIES GMBH;ITT INDUSTRIES, INC. 发明人 HISS, LUDWIG, ING. GRD.;WALDVOGEL, ULRICH, DIPL.-PHYS.
分类号 H01L21/265;H01L21/027;(IPC1-7):01L21/00 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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