发明名称 Opto-electronic system for automatically testing the quality of printed-circuit boards, their intermediate products and printing tools.
摘要 Automatisches Prüfsystem für die Beschaffenheitsprüfung von Leiterplatten (2) mit einer Absolutprüfung von musterspezifischen Prüfkriterien. Auf eine analoge Signalvorverarbeitung (8) erfolgt eine Überprüfung der Strukturelemente in mehreren parallel arbeitenden Fehlererkennungsschaltungen (11, 12, 13). Fehlermeldungen werden mit den zugehörigen örtlichen Koordinaten, die die Wegmeßsysteme liefern, verknüpft und in dem Speicher eines Mikroprozessors (22) abgelegt, der auch die Ablaufsteuerung übernimmt. Nach der automatischen Prüfung werden die vom Prüfsystem gefundenen Fehler einer visuellen Klassifizierung unterzogen.
申请公布号 EP0023574(A1) 申请公布日期 1981.02.11
申请号 EP19800103746 申请日期 1980.07.01
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 DOEMENS, GUNTER, DR.;HENDRICKS, ULRICH, DIPL.-ING.;SCHNEIDER, RICHARD, DR.;WILD, KARL, DIPL.-ING.
分类号 G01N21/88;G01B11/24;G01N21/956;G01R31/28;G01R31/309;G03F1/08;G06T1/00;G06T7/00;H01L21/027;H01L21/66;H04N7/18;(IPC1-7):G01R31/28;G01B9/02;G06K9/00;G06K9/46 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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