| 摘要 |
L'invention concerne un procédé de détermination pour chacun d'au moins p paramètres physiques d'un ou plusieurs composants d'un circuit électronique ou d'un microsystème électromécanique, d'un nombre n de valeurs d'expérimentation du paramètre physique. Le procédé consiste à déterminer n vecteurs de dimension p, chaque composante de chacun des vecteurs correspondant à l'une de n valeurs initiales de l'un desdits paramètres physiques ; et à modifier de façon itérative au moins certains des n vecteurs pour rendre maximum, au moins localement, pour chaque paire de vecteurs parmi des paires desdits n vecteurs, la moyenne la plus faible de la somme de distances entre les vecteurs de ladite paire projetés dans des sous-espaces de dimension k, où k appartient à un ensemble d'entiers compris entre 1 et p et comprenant au moins 1, 2 et p, les composantes de chacun des n vecteurs correspondant, à la fin des itérations, auxdites valeurs d'expérimentation.
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