| 摘要 |
<p>Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zum Abtasten von Mustern mit einer geregelten Lichtquelle. Bei der Abtastung von Aufzeichnungsträgern treten Störfaktoren auf, die sich aus schwankendem Remissionsgrad der Aufzeichnungsträger (A) und wechselndem Abstand der Lichtquelle (L1, L2) von dem zu beleuchtenden Abstastfeld des Aufzeichnungsträgers (A), insbesondere bei Handlesegeräten ergeben. Mit einem Regelkreis für die Lichtquelle (L1, L2) wird diese unerwünschte Information im Bildsignal durch Regelung der Beleuchtungsintensität beseitigt. In der Abtasteinrichtung wandelt eine Sensorfläche (SF) das von dem Abtastfeld des Aufzeichnungsträgers (A) remittierte Licht (RL) in elektrische Signaleum. Ein daraus gebildetes Summensignal ist die Meßgröße, die verzögert und in einer Vergleichsschaltung (VS) mit einem vorgegebenen Sollwert (SW) verglichen wird. Das Ausgangssignal der Vergleichsschaltung (VS) steuert ein Stellglied (SG) im Stromkreis der Lichtquelle (L1, L2). Da die genannten Störfaktoren insbesondere dann gravierend auftreten, wenn unterschiedliche Aufzeichnungsträger abzutasten sind und die Aufzeichnungsträger bei der Abtastung nicht automatisch transportiert werden, ist die Einrichtung insbesondere bei manuell geführten Handlesegeräten mit Vorteil anzuwenden.</p> |
