| 发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zur Abtasten eines Gegenstandes in einem rechnergestützten Tomographen |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60033723(D1) |
申请公布日期 |
2007.04.19 |
| 申请号 |
DE2000633723 |
申请日期 |
2000.04.19 |
| 申请人 |
GENERAL ELECTRIC CO. |
发明人 |
EDIC, PETER MICHAEL;PFOH, ARMIN HORST |
| 分类号 |
G01N23/04;A61B6/03;G21K1/02 |
主分类号 |
G01N23/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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