| 发明名称 |
IMPURITY ANALYSIS METHOD OF RAW MATERIALS FOR COMPOUND SEMICONDUCTOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS53124498(A) |
申请公布日期 |
1978.10.30 |
| 申请号 |
JP19770039702 |
申请日期 |
1977.04.07 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
OZEKI MASASHI;OOKAWA TANJI;KITAHARA KUNINORI |
| 分类号 |
G01N21/64;G01N21/00;G01N33/00 |
主分类号 |
G01N21/64 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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