| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY |
| 摘要 |
PURPOSE:To shorten the test time and thus to increase the test efficiency by dividing the memory cell array into some blocks under the division mode and then giving parallel operation to each block. |
| 申请公布号 |
JPS53120234(A) |
申请公布日期 |
1978.10.20 |
| 申请号 |
JP19770034367 |
申请日期 |
1977.03.30 |
| 申请人 |
TOKYO SHIBAURA ELECTRIC CO |
发明人 |
TAMARU KEIKICHI |
| 分类号 |
G11C11/41;G06F11/22;G11C8/12;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/34 |
主分类号 |
G11C11/41 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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