发明名称 SYSTEM SPECTOMETER
摘要 PURPOSE:To detect an abnormal test piece with an improved reliability by detecting the zeroorder light from the test piece in the spectoroscopy.
申请公布号 JPS5364084(A) 申请公布日期 1978.06.08
申请号 JP19760138373 申请日期 1976.11.19
申请人 HITACHI LTD 发明人 MURAKOSHI TAKEO
分类号 G01J3/00;G01N21/27;G01N21/88;G01N35/02 主分类号 G01J3/00
代理机构 代理人
主权项
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