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发明名称
SYSTEM SPECTOMETER
摘要
PURPOSE:To detect an abnormal test piece with an improved reliability by detecting the zeroorder light from the test piece in the spectoroscopy.
申请公布号
JPS5364084(A)
申请公布日期
1978.06.08
申请号
JP19760138373
申请日期
1976.11.19
申请人
HITACHI LTD
发明人
MURAKOSHI TAKEO
分类号
G01J3/00;G01N21/27;G01N21/88;G01N35/02
主分类号
G01J3/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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