发明名称 UNA PLACA PERFECCIONADA PARA PRUEBA DE MUESTRAS.
摘要 Una placa perfeccionada para prueba de muestras caracterizada porque comprende un panel frontal; un panel posterior, el panel frontal teniendo una pluralidad de aberturas; medios de lámina entre los paneles frontal y posterior que caen por debajo de cada una de las aberturas para la recepción de una muestra y la porción de la lámina que se encuentra debajo de cada abertura lleva un reactivo de prueba; *** Ver imagen 01
申请公布号 ES458182(A1) 申请公布日期 1978.04.01
申请号 ES19820004581 申请日期 1977.04.26
申请人 SMITHKLINE CORPORATION 发明人
分类号 F21V5/02;G01N31/22;G01N33/52;G01N33/72;(IPC1-7):G01N/ 主分类号 F21V5/02
代理机构 代理人
主权项
地址