首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
PILLAR MATERIAL
摘要
申请公布号
JPS535820(A)
申请公布日期
1978.01.19
申请号
JP19760080474
申请日期
1976.07.06
申请人
KINKI KOGYO
发明人
KITANO KATSUHIRO;KAMIMURA YOSHIHARU
分类号
E04B2/74;E04B2/78;E04C3/32
主分类号
E04B2/74
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
在处理器中用于使非核心领域能够控制记忆体频宽之方法与系统及处理器(二);METHOD AND SYSTEM FOR ENABLING A NON-CORE DOMAIN TO CONTROL MEMORY BANDWIDTH IN A PROCESSOR, AND THE PROCESSOR
处置日志文档的电脑实施方法;COMPUTER-IMPLEMENTED METHOD FOR HANDELING LOGS
电子装置及其使用之振动机构;ELECTRICAL DEVICE AND VIBRATING MECHANISM THEREOF
混成供电架构;HIBRID POWER SUPPLY ARCHITECTURE
高炉铁水温度预测方法
彩色滤光片用红色着色组成物、着色膜、彩色滤光片、固体摄像元件;RED COLOR COMPOSITION FOR COLOR FILTER, COLORED FILM, COLOR FILTER, SOLID IMAGING DEVICE
硷显影型感光性树脂组合物、乾膜和固化物以及印刷电路板
浸没曝光设备、浸没曝光方法和元件制造方法;IMMERSION EXPOSURE APPARATUS, IMMERSION EXPOSURE METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
液晶显示元件及感放射线性树脂组成物;LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION
超薄型导光板及其制法
用于三维显示装置之显示总成;DISPLAY ASSEMBLY FOR USE IN THREE DIMENSION DISPLAY APPARATUS
测距仪;RANGE FINDER
半导体元件测试系统及其影像处理加速方法;SEMICONDUCTOR DEVICE TEST SYSTEM AND METHOD FOR ACCELERATING IMAGE PROCESSING THEREOF
电子元件测试设备
触控面板检测装置;TOUCH PANEL INSPECTION APPARATUS
音波侦测杯底检测系统、检测方法及检测模组;SOUND WAVE INSPECTION APPARATUS、
玻璃上晶片之接合检验设备;CHIP ON GLASS BONDING INSPECTION APPARATUS
粒子侦测之可定址性技术;ADDRESSABILITY IN PARTICLE DETECTION
透镜色差式光谱量测装置及光谱量测方法;LENS-CHROMATISM SPECTRUM MEASUREMENT DEVICE AND SPECTRUM MEASUREMENT METHOD
小型油雾分离机的装置