发明名称 SYSTEME D'EXPOSITION A UN FAISCEAU D'ELECTRONS
摘要 <P>L'invention concerne un système d'exposition à un faisceau d'électrons comprenant un moyen générateur d'un faisceau d'électrons un système optique électronique pour converger et projeter le faisceau sur une pièce, un moyen d'entraînement pour décaler continuellement pièce dans une certaine direction Y et un moyen déflecteur pour dévier le faisceau d'électrons dans une étendue de bande étroite sur la pièce plus ou moins perpendiculairement à la direction Y. </P><P>Selon l'invention un moyen forme le faisceau d'électrons 3 à section transversale à plusieurs côtés produit par le moyen générateur 2 et il comporte deux plaques à ouvertures 7 et 8 ayant des ouvertures a plusieurs côtes respectivement et un moyen déflecteur 9 entre les deux plaques. </P><P>L'invention permet notamment de reproduire divers motifs sur des pièces.</P>
申请公布号 FR2354632(A1) 申请公布日期 1978.01.06
申请号 FR19770017867 申请日期 1977.06.10
申请人 RIKAGAKU KENKYUSHO 发明人
分类号 H01L21/027;H01J37/30;(IPC1-7):H01J37/04 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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