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发明名称
X RAY SPECTROSCOPE
摘要
PURPOSE:To measure characteristic X ray from measured sample, by carrying out low speed scanning operation only at neighbourhood of spot which gives glancing angle corresponding to wave length of each characteristic X ray to be diffracted.
申请公布号
JPS52147488(A)
申请公布日期
1977.12.07
申请号
JP19760063507
申请日期
1976.06.02
申请人
HITACHI LTD
发明人
HARA KOUICHI
分类号
G01N23/225;G01N23/207;G21K1/06;H01J37/252
主分类号
G01N23/225
代理机构
代理人
主权项
地址
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